可控硅是设备电路中的基础且非常重要的元件，可控硅质量的好坏，决定了设备的运行质量和安全。对此，可控硅元件采购和使用前，应对可控硅质量情况进行检测和判断。可控硅元件在电气设备中发挥重大作用，但可控硅使用中要注意运行环境和相关指标，防止可控硅损坏而影响到设备的正常使用。对此，在选用可控硅的额定电压时，应参考实际工作条件下的峰值电压的大小，并留出一定的余量。

1、选择额定电流时，除考虑通过元件的平均电流外，还应注意正常工作时导通角的大小、散热和通风条件等因素。工作中还应注意管壳温度在相应电流下不超过允许值。

2、使用可控硅前，应先用万用表检查晶闸管是否完好。当发现短路或断路时，应立即更换。

3、严禁使用兆欧表（兆欧表）检查元器件的绝缘情况。

4、电流在5A以上的可控硅应加装散热器，并保证规定的散热条件。为保证散热片与晶闸管铁芯接触良好，应在它们之间涂上一层薄薄的硅油或油脂，以利于良好散热。

5、主电路可控硅按规定采用过压、过流保护装置。

6、要防可控硅控制极正向过载和反向击穿。

确定损坏原因

当可控硅损坏需要检查分析原因时，可将管芯从冷却夹套中取出，打开芯盒取出芯片，观察损坏痕迹即可判断原因。下面介绍几种常见现象的分析。

1、电压击穿。因不能承受电压而损坏，芯片上有一个小孔，有时只能用放大镜才能看到。原因可能是管子本身的耐压下降或被电路断开时产生的高压击穿。

2、电流损坏。电流损坏的痕迹特征是芯片被烧成坑，而且比较粗糙，位置远离控制电极。

3、电流上升率损坏。其痕迹与当前损坏相同，位置在控制杆附近或上。

4、边缘损坏。它发生在芯片外圆的倒角处，有小而光滑的孔。用放大镜可以看到倒角面上有细微的金属划痕。这是厂家安装不慎造成的。它会导致电压击穿。